| 随着电子技术、通令技术、计算机技术的飞速发展，各种测试技术也得到了飞速的发展。在计算机控制下的测试过程变得更加的高效、简捷、灵活。这种计算机控制下对各种电量和非电量进行测量、数据处理、设备控制以及结果输出的系统称为自动测试系统。所采用的技术称为计算机辅助测试技术（简称CAT）。 |
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| 第一部分 用现有仪器构成自动测试系统 第1章 自动测试系统概述 1.1 自动测试系统的组成 1.2 自动测试系统的分类 1.3 现代自动测试系统的特点 第2章 通用接口总线概述 2.1 概述 2.2 接口基本性能及仪器功能 2.3 总线结构 2.4 接口基本特性 第3章 通用接口总线协议编码 3.1 信息分类 3.2 接口信息及编码 3.3 设备信息及编码 第4章 接口功能 4.1 清除功能（DC） 4.2 设备触发功能（DT） 4.3 听功能（L） 4.4 讲功能（T） 4.5 源功能（SH） 4.6 受功能（AH） 4.7 服务请求功能（SR） 4.8 远程/本地功能（RL） 4.9 控者功能（C） 第5章 USB及虚拟仪器 5.1 USB总线协议简介 5.2 基本结构简介 5.3 USB协议总览 5.4 连接特性 5.5 VXI概念 第二部分 模拟集成电路测试系统 第6章 CAT概述及TM7简介 6.1 CAT概述 6.2 TM7简介 第7章 测试语言简介 7.1 BASIC语法定义 7.2 TBASIC命令 7.3 TBASIC的语句 7.4 测试用的新增函数 7.5 其他语句组 7.6 数字测试扩展语句 7.7 如何使用TBASIC7 7.8 测试语言的深层次讨论 第8章 TM7的硬件 8.1 TM7的硬件系统结构 8.2 硬件的层次结构（三层结构） 8.3 TM7的接口控制电路的几个问题 8.4 TM7的数字电路 8.5 模拟电路 第9章 基本种类IC的测试 9.1 运算放大器的测试 9.2 集成三端稳压器的测试 9.3 DAC的测试 9.4 ADC的测试及适配器的工作原理 第10章 测试仪系统软件的开发及仪器自检和校准 10.1 系统软件的结构 10.2 自检原理及算法 10.3 校准 10.4 TM7的校准和模拟量自检方法 附录A TBASIC命令表 附录B 函数表 附录C 测试语句表 附录D TBASIC错误信息表 英文缩略词英汉对照表 参考文献 |
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