第一章 电可改写集成电路简介
第二章 EEPROM单元结构的变革及发展方向
第三章 FLOTOX EEPROM单元设计技术
第四章 EEPROM的电路设计技术
第五章 EEPROM中隧道氧化层的可靠性研究
第六章 FLOTOX EEPROM MOS管的可靠性研究
第七章 EEPROM单元的耐久性研究
第八章 EEPROM单元的保持特性研究
第九章 EEPROM的失效机理与考核
第十章 EEPROM的误差校正技术及成品率
第十一章 flash memory技术
第十二章 电可改写集成电路的应用
参考文献 |
内容加载中，请稍后...
商品评论（0条）